豊橋技術科学大学 研究非鉛圧電薄膜の欠陥メカニズムを解明
～酸素空孔の分布と移動が電気的劣化と寿命を決定づける～
【産学連携対象 全学共通分野 Discovery Saga】
【Sagaキーワード】
プレスリリース | 2026年7月21日
概要
豊橋技術科学大学電気・電子情報工学系の吉村武教授と大阪公立大学の研究チームは、ペンシルベニア州立大学の誘電体・圧電体研究センター(CDP)との国際共同研究により、環境負荷の低い次世代圧電材料として注目される「Mn添加ビスマスフェライト（BiFeO₃）薄膜」について、薄膜中の酸素空孔の移動と分布が、電荷の流れ方や長期的な電気的安定性をどのように支配するかを明らかにしました。本成果は、非鉛圧電体薄膜のデバイス応用に向けた材料設計指針を与えるものです。https://pubs.acs.org/doi/10.1021/acsami.6c00718