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早稲田大学
鷲崎 弘宜
教授
機関別共同研究
Discovery Saga
論文分野別Discovery Saga
研究テーマDiscovery Saga
協賛企業
共同研究先:ABB Group
Corporate
共同研究数 1
Conference Paper
2019 4
IEEE : Institute of Electrical and Electronics Engineers
Reduce test cost by reusing test oracles through combinatorial join
組合せ結合によるテストオークルの再利用でテストコストを削減する
Hiroshi Ukai, Xiao Qu, Hironori Washizaki, Yoshiaki Fukazawa
【抄録】
Methods to generate combinatorial test suites have been extensively studied in the combinatorial interaction testing (CIT) community, but the creation of test oracles for the test cases remains a challenging and expensive task because they are created manually. In this paper, we propose a novel technique to 'join' multiple test suites into one while satisfying the required combinatorial coverage of the system under test. This technique allows test oracles designed and created in earlier testing phases to be reused in later ones. Our study results indicate that the technique can reduce the total test cost to design and execute a test suite by more than 55% compared to the conventional testing approach. © 2019 IEEE.
【抄録日本語訳】
組合せ相互作用試験(CIT)コミュニティでは、組合せテストスイートを生成する方法が広く研究されているが、テストケースのためのテストオークルの作成は手作業のため、依然として困難で高価なタスクである。本論文では、テスト対象システムの組合せ網羅性を満足しつつ、複数のテストスイートを1つに「結合」する新しい手法を提案する。この手法により、以前のテストフェーズで設計・作成されたテストオラクルを、後のテストフェーズで再利用することが可能となる。本研究の結果、本技術により、従来のテスト手法と比較して、テストスイートの設計と実行にかかる総テストコストを55%以上削減できることが示された。© 2019 IEEE.