走査プローブ顕微鏡による空間反転対称性の破れた表面超伝導体の特異な物性解明
【研究分野】物性Ⅰ
【研究キーワード】
超伝導 / 走査トンネル顕微鏡 / ラシュバ効果 / 物性実験 / 表面・界面 / 表面・界面物性 / 超薄膜
【研究成果の概要】
本研究ではSrTiO3(001)基板(STO)の表面超構造と、その上に成長させた単一ユニットセルFeSeの超伝導特性の関係を走査トンネル顕微鏡/分光測定を用いて調べた。反射高速電子回折観察を行いながらSTO基板の加熱温度を変化させることで、STOの表面超構造を2×1と√2×√2に作り分けることに成功した。さらにこの表面超構造が、上に成長させたFeSeを介して観察できることがわかり、超伝導ギャップの大きさが超構造に依存している( 2×1 上では10-15 meVで、√2×√2では15-17.5 meV)ことを世界で初めて観測した。この起源はSTO基板の終端面に関連していると思われる。
【研究代表者】
【研究協力者】 |
田中 友晃 | |
芳野 諒 | |
秋山 健太 | |
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【研究種目】若手研究(A)
【研究期間】2015-04-01 - 2018-03-31
【配分額】23,790千円 (直接経費: 18,300千円、間接経費: 5,490千円)