「透過電子顕微鏡」に関するサイレントキーワード「ナノ加工」が含まれる科研費採択研究1件

【研究名】ナノ物体の物性計測と可視化観察の同時遂行を目指すナノ・ハンド・アイ・システム
【研究代表者】藤田 博之  東京大学   生産技術研究所   教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000090134642/	 
【研究分担者】
橋口 原  静岡大学  電子工学研究所  教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000070314903/	
安宅 学 (安毛 学)  東京大学  生産技術研究所  助手  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000080302628/	
横川 隆司  立命館大学  理工学部  講師  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000010411216/	
【研究連携者】     
安宅 学  東京大学  生産技術研究所  助手  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000080302628/	
横川 隆司  立命館大学  理工学部  講師  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000010411216/