「表面・界面」に関するサイレントキーワード「エネルギー分散型X線分光法」が含まれる科研費採択研究1件

【研究名】セラミックス粒界における溶質偏析構造の原子レベル解析
【研究代表者】馮 斌  東京大学   大学院工学系研究科(工学部)   特任准教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000020811889/