「顕微鏡」に関するサイレントキーワード「砥粒加工」が含まれる科研費採択研究1件

【研究名】走査型電子顕微鏡下における単一砥粒の加工試験・分析の一貫システムの構築
【研究代表者】土屋 健介  東京大学   生産技術研究所   准教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000080345173/