「顕微鏡」に関するサイレントキーワード「白色干渉顕微鏡」が含まれる科研費採択研究1件

【研究名】サブナノメートル形状のマルチスケール測定・評価
【研究代表者】笹島 和幸  東京工業大学   大学院・情報理工学研究科   教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000080170702/	 
【研究分担者】
原 精一郎  東京工業大学  大学院・情報理工学研究科  助教授  	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000040293253/