「電子状態」に関するサイレントキーワード「プローブ顕微鏡」が含まれる科研費採択研究2件

【研究名】グラフェン欠陥構造に現れる局在スピン状態の制御
【研究代表者】藤井 慎太郎  東京工業大学   理学院   特任准教授 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000070422558/	
【研究名】酸化構造を鋳型としたグラフェン端の作製と評価
【研究代表者】藤井 慎太郎  東京工業大学   理工学研究科   流動研究員 	https://nrid.nii.ac.jp/ja/nrid/1000070422558/